SN74ABTH182646APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
型号
SN74ABTH182646APM
制造商/品牌
系列
74ABTH
零件状态
Active
包装
Tray
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
封装/箱体
64-LQFP
供应商器件封装
64-LQFP (10x10)
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
18
逻辑类型
Scan Test Device With Transceivers And Registers
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